Emberion公司将在旧金山展示基于石墨烯的VIS-SWIR线性阵列

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总部位于芬兰的Emberion公司最近宣布计划在旧金山的SPIE Photonics West推出可见光到短波红外(VIS-SWIR)检测的新产品,时间为5-7.2.2019。据说展示的线性阵列专门用于光谱学,并使用石墨烯作为吸收层。

Linear graphene-based VIS-SWIR detector (Emberion)

基于线性石墨烯的VIS-SWIR探测器(Emberion)


Emberion推出具有成本竞争力的512×1像素VIS-SWIR线性阵列传感器,用于可见光到短波红外光谱范围。该传感器可在宽(400  -  1800 nm)光谱范围内提供卓越且一致的响应度和极低的噪声。该传感器包括一个25×500μm2像素阵列,单片构建在量身定制的CMOS读出集成电路上。 ROIC包含一个模拟前端,执行模数转换和信号预处理,实现电子快门,并提供高达16位分辨率的数字数据输出。


Emberion还提供用于技术评估和应用开发目的的测量模块。该模块包括用于传感器读数,控制和信号校准,电源管理和USB接口的硬件和软件实现。传感器和模块于2019年7月上市。


除了引入的线性阵列产品,Emberion将在2019年末提供VGA成像器。这些VGA传感器覆盖相同的VIS-SWIR光谱范围(400-1800 nm波长),非常适合夜间和机器视觉以及高光谱成像。与现有产品相比,这些成像器将以低廉的成本为传感器市场带来高性能VIS-SWIR波长探测器,从而在现有和新兴应用领域中更广泛地采用VIS-SWIR成像技术。此外,在2020年底,Emberion将提供一种用于热成像的新型超灵敏非制冷测辐射热计阵列。这种热图像传感器在室温操作中具有非常有竞争力的热分辨率/灵敏度性能 - 与当前冷却的检测器性能相当。



(文章源于graphene-info网,由石墨烯材料网翻译编辑整理)


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